壓痕粒子AOI自動光學(xué)檢測系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介：

      COG、FOG等后工序中導(dǎo)入AOI檢查是必要的，除了壓痕、偏位檢查項(xiàng)目之外，劃傷、異物外觀檢查也成為高階需求。

      智能手機(jī)屏輕薄并且要求AOI檢查Cycle-time短，因Dimple*形成異物而造成過檢要克服；車載屏不僅在接合部 (Land) 而目在相機(jī)視野內(nèi)所有劃傷、異物也能檢查出來。高階AOI檢查內(nèi)容要求系統(tǒng)必須采用圖像機(jī)器深度學(xué)習(xí)等方法。

*Dimple: 附著了臟污等造成玻璃在減薄加工時出現(xiàn)凹坑，AOI檢查成像變成模糊不清，壓痕看不見而誤判成壓痕NG, 僅是壓痕不能看見而實(shí)際壓痕仍存在，在有Dimple區(qū)域情形一般不作壓痕檢查，而判定為OK情形。